Gocator 4010製品パラメーター
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モデル |
Gocator 4010 |
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ブランド |
LMI |
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センサータイプ |
共焦点センサー |
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データポイント |
1920 |
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フィールドオブビューFOV(mm) |
3.5 |
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測定範囲MR(MM) |
1.05 |
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正味距離(mm) |
9.3±0.2 |
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X方向解像度(µm) |
1.9 |
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z方向線形性(MRの%) |
0.06 |
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Z方向の再現性の精度(µm) |
0.12 |
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スキャン率/時間 |
4.3〜14 kHz |
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最大チルト角(度) |
45 ~ 85 |
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データインターフェイスGige |
ジゲ |
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電源 |
24〜48 VDC、77W |
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保護レベル |
IP50 |
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機械的寸法 |
82 mm×183 mm×459 mm |
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作業温度 |
+15度〜+35度 |
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重さ |
10.4 kg |
の製品機能Gocator 4010
1。超高精度と高速スキャン
スキャンされた輪郭ごとに1,920のデータポイントを生成し、例外的に明確に細かい詳細をキャプチャします。
高速スキャン率、リアルタイムの3D測定と検査の確保。
1.9μmのX方向解像度で、超高速フィーチャの検出を可能にします。
2。高度な同軸光学設計
シャドウフリースキャン、複雑な幾何学や挑戦的な素材に最適です。
±85度の最大傾斜角は、湾曲と傾斜の表面に優れた適応性を提供します。
反射性材料の優れた性能は、金属、ガラス、磨かれた表面の正確な測定を確保します。
3。汎用性とインテリジェントな検査機能
材料または部品の形状を正確にスキャンして、多様な製造アプリケーションに適しています。
組み込みの3D測定および検査ソフトウェア、統合と操作の簡素化。
自動化された生産ラインとのシームレスな互換性、スマート製造の効率を向上させます。
の製品アプリケーションGocator 4010
1。半導体および電子製造
- ウェーハの欠陥検出:紫外線は、薄層材料(フォトレジストなど)に浸透し、サブミクロンレベルの表面欠陥またはパターンの歪みを特定し、チップ収量を改善することができます。
- マイクロサーキット検出:PCBはんだ接合部の品質、隠れた亀裂、またはマイクロ回路の汚染を検出するために使用されます。 UV光は、目に見える光の反射干渉を回避し、欠陥を正確に見つけることができます。
- 包装材料分析:パッケージング接着層の均一性または泡を検出し、紫外線の吸収率が高い有機材料のイメージングコントラストを強化します。
2。材料科学とコーティングのテスト
- 蛍光材料分析:化学組成の同定または汚染物質の識別(油の汚れや残留化学物質など)のための複合材料または生物学的サンプルの蛍光特性の励起。
- コーティングの厚さと均一性:コーティングプロセス中の厚さの一貫性を確保するために、コーティング上の紫外線照明の浸透能力(UV硬化接着剤など)をリアルタイムで監視できます。
3。精密機械加工とマイクロナノ製造
- UVレーザー処理モニタリング:UVレーザー(355 nm波長など)と併せて、微量処理中の熱罹患ゾーンのリアルタイム観測または変形(エッチング、掘削)。
- 3D印刷断層撮影検出:紫外線の高解像度を利用して、層ごとに印刷された構造層の精度を検出し、層間層の不整合または不十分な材料硬化を回避します。
寸法

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